Keysight Technologies bringt das neue Silizium-Photonik-Testsystem NX5402A, das die Softwaretechnologie Keysight PathWave Semiconductor Test (Teil der Keysight PathWave Test Software) integriert. Damit können Halbleiterhersteller die Produktion von Silizium-Photonik-Wafern mit stabilen und reproduzierbaren Testfunktionen beschleunigen. Die Lösung ermöglicht einen schnellen Start der Serienproduktion mit Stabilität und Reproduzierbarkeit.
Silizium-Photonik ist eine der wichtigsten aufkommenden Technologien zur Bewältigung des wachsenden Internet-Traffics und der Nachfrage nach höheren Datenraten. Sie wird in erster Linie im Rechenzentrum eingesetzt, vor allem bei Big-Data- und Cloud-Anwendungen, aber auch in anderen Bereichen wie dem Gesundheitswesen, der Lichterkennung und Entfernungsmessung in der Automobilindustrie (LiDAR), dem optischen Computing und dem Quantencomputing.
Einem aktuellen Marktforschungsbericht von Yole Développement zufolge wird der Gesamtmarkt für diese Technologie im Jahr 2025 ein Volumen von 3,9 Mrd. $ erreichen. Infolgedessen erwägen viele Hersteller den Einsatz von Silizium-Photonik. Bisher gibt es jedoch keine kommerziell erhältlichen Testgeräte für die Serienproduktion dieser Technologie unter Verwendung vollautomatischer Wafer-Prober. Darüber hinaus erfordern Silizium-Photonik-Tests eine Vielzahl genauer Messungen. Unternehmen und Systemintegratoren setzen auf Systemoptimierung und -wartung, da die Kommunikation mit mehreren Anbietern komplex und ineffizient ist.
